ホーム > Japan Patent Ranking > Samsung Electronics Co., Ltd. > 2011 > Publications
※ You can add "Samsung Electronics Co., Ltd." to your own list by loggin in. About Login
■ 2011 Application Ranking 57th publications: 657
(2010: 73th 608)
■ 2011 Acquisition Ranking 31th registrations: 872
(2010: 31th 731)
(update:Apr 22, 2021)
公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2011-258942 | Semiconductor device with through electrode | Dec 22, 2011 | |
特開 2011-256106 | Multi-layered nanocrystals and their manufacturing methods | Dec 22, 2011 | |
特開 2011-259433 | Print control terminal device and hue correction method | Dec 22, 2011 | |
特開 2011-257733 | Manufacturing method of stereoscopic image display system and stereoscopic image display system including shutter glasses for stereoscopic image display device and shutter glasses for stereoscopic image display device | Dec 22, 2011 | |
特開 2011-258976 | Node contact structure | Dec 22, 2011 | |
特開 2011-257730 | Display device | Dec 22, 2011 | |
特開 2011-259404 | Dithered image data generation method and image data generation device for stereoscopic image display | Dec 22, 2011 | |
特開 2011-258949 | Thin film transistor display board and its manufacturing method | Dec 22, 2011 | |
特開 2011-258973 | A method for manufacturing a silicon wafer including an Ar / NH3 rapid thermal annealing step. | Dec 22, 2011 | |
特開 2011-258977 | Semiconductor element | Dec 22, 2011 | |
特開 2011-255187 | Biosignal measuring devices and methods, interface devices, biosignal noise removing devices and detection devices, and computer-readable recording media | Dec 22, 2011 | |
特開 2011-253607 | Multilayer semiconductor memory device, memory system including this, and defect repair method for through electrodes | Dec 15, 2011 | |
特開 2011-253172 | Display device | Dec 15, 2011 | |
特開 2011-253608 | Non-volatile memory devices with dynamic verification mode selection and their operating, driving, programming methods, memory systems, memory cards and solid state drivers | Dec 15, 2011 | |
特開 2011-253609 | Non-volatile memory devices, their programming methods, memory systems including non-volatile memory devices, electronic devices and systems | Dec 15, 2011 |
1-15 (total:657)
※ : select publication number
Copy all numbers
2011-258942 2011-256106 2011-259433 2011-257733 2011-258976 2011-257730 2011-259404 2011-258949 2011-258973 2011-258977 2011-255187 2011-253607 2011-253172 2011-253608 2011-253609
※ You can add applicants to the list by logging in. Useful for checking trends in "Samsung Electronics Co., Ltd." intellectual property.
4月22日(木) -
4月22日(木) -
4月22日(木) -
4月23日(金) -
4月23日(金) - 東京 港区
4月23日(金) -
4月23日(金) - 愛知 名古屋市
4月23日(金) - 大阪 大阪市
4月23日(金) - 福岡 福岡市
4月23日(金) -
4月23日(金) -
4月23日(金) -
4月22日(木) -
4月26日(月) -
4月27日(火) - 東京 港区
4月27日(火) -
4月26日(月) -
〒166-0003 東京都杉並区高円寺南2-50-2 YSビル3F 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒460-0008 愛知県名古屋市中区栄一丁目23番29号 伏見ポイントビル3F 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国商標 鑑定 コンサルティング
神奈川県川崎市堀川町580番地 ソリッドスクエアビル 東館 4階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 訴訟 鑑定 コンサルティング