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Hitachi High-Technologies Corporation
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■ 2011 Application Ranking 52th publications: 689
（
2010: 70th 624）
■ 2011 Acquisition Ranking 98th registrations: 350
（
2010: 95th 307）
（update：Oct 22, 2020）
| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4847711 | Charged particle beam device | Dec 28, 2011 | |
| 特許 4845452 | Sample observation method and charged particle beam device | Dec 28, 2011 | |
| 特許 4847848 | Method for detecting molecule bound to carrier protein, detection kit and detection device | Dec 28, 2011 | |
| 特許 4845903 | Work handling device and component mounting device | Dec 28, 2011 | |
| 特許 4845816 | Plasma processing device | Dec 28, 2011 | |
| 特許 4847685 | Pattern search method | Dec 28, 2011 | |
| 特許 4847900 | Scanning electron microscope | Dec 28, 2011 | |
| 特許 4848310 | Microscope with probe and method for driving probe | Dec 28, 2011 | |
| 特許 4843399 | Inspection device and inspection method | Dec 21, 2011 | |
| 特許 4843406 | Capillary electrophoresis analyzer | Dec 21, 2011 | |
| 特許 4839276 | Liquid chromatograph mass spectrometer | Dec 21, 2011 | |
| 特許 4843413 | Electron beam inspection apparatus and electron beam inspection method | Dec 21, 2011 | |
| 特許 4843250 | Method of identifying substances using mass spectrometry | Dec 21, 2011 | |
| 特許 4842533 | Defect inspection equipment | Dec 21, 2011 | |
| 特許 4839254 | Mass spectrometry data analysis method | Dec 21, 2011 |
1-15 (total:350)
※ : select publication number
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4847711 4845452 4847848 4845903 4845816 4847685 4847900 4848310 4843399 4843406 4839276 4843413 4843250 4842533 4839254
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