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Hitachi High-Technologies Corporation
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■ 2011 Application Ranking 52th publications: 689
（
2010: 70th 624）
■ 2011 Acquisition Ranking 98th registrations: 350
（
2010: 95th 307）
（update：Feb 25, 2021）
| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2011-258563 | Mass spectrometer | Dec 22, 2011 | |
| 特開 2011-257224 | Nucleic acid analysis device and manufacturing method thereof | Dec 22, 2011 | |
| 特開 2011-254806 | Fishing device and fishing method | Dec 22, 2011 | |
| 特開 2011-257222 | Defect inspection method and defect inspection apparatus | Dec 22, 2011 | |
| 特開 2011-258576 | Standard sample used in charged particle beam apparatus, charged particle beam apparatus, and method for manufacturing standard sample used in charged particle beam apparatus | Dec 22, 2011 | |
| 特開 2011-258573 | Charged particle beam device | Dec 22, 2011 | |
| 特開 2011-257304 | Substrate inspection method and device | Dec 22, 2011 | |
| 特開 2011-257186 | Defect inspection equipment | Dec 22, 2011 | |
| 特開 2011-257268 | Spectrophotometer | Dec 22, 2011 | |
| 特開 2011-258615 | Plasma processing apparatus and plasma processing method | Dec 22, 2011 | |
| 特開 2011-254944 | Magnetic field analysis method, program, and magnetic field analysis device | Dec 22, 2011 | |
| 特開 2011-257427 | Automatic analyzer | Dec 22, 2011 | |
| 特開 2011-258967 | Plasma processing device | Dec 22, 2011 | |
| 特開 2011-258614 | Plasma processing device or sample mounting table | Dec 22, 2011 | |
| 特開 2011-257408 | Displacement detection circuit | Dec 22, 2011 |
1-15 (total:689)
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2011-258563 2011-257224 2011-254806 2011-257222 2011-258576 2011-258573 2011-257304 2011-257186 2011-257268 2011-258615 2011-254944 2011-257427 2011-258967 2011-258614 2011-257408
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