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Hitachi High-Technologies Corporation
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■ 2012 Application Ranking 54th publications: 709
（
2011: 52th 689）
■ 2012 Acquisition Ranking 71th registrations: 547
（
2011: 98th 350）
（update：Apr 15, 2021）
| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5107629 | Deflection control circuit and electron beam scanning device | Dec 26, 2012 | |
| 特許 5108489 | Plasma processing method | Dec 26, 2012 | |
| 特許 5110977 | Defect observation device and method thereof | Dec 26, 2012 | |
| 特許 5108629 | Automatic analyzer | Dec 26, 2012 | |
| 特許 5107146 | Automatic analyzer | Dec 26, 2012 | |
| 特許 5106906 | Automatic analyzer | Dec 26, 2012 | |
| 特許 5107984 | Stage equipment | Dec 26, 2012 | |
| 特許 5110987 | Plasma processing method and computer-readable recording medium | Dec 26, 2012 | |
| 特許 5107977 | Ion trap mass spectrometer | Dec 26, 2012 | |
| 特許 5107812 | Inspection equipment | Dec 26, 2012 | |
| 特許 5102968 | Conductive needle and method of manufacturing the same | Dec 19, 2012 | |
| 特許 5103422 | Charged particle beam device | Dec 19, 2012 | |
| 特許 5103253 | Charged particle beam device | Dec 19, 2012 | |
| 特許 5102580 | Charged particle beam application device | Dec 19, 2012 | |
| 特許 5103049 | Wafer mounting electrodes | Dec 19, 2012 |
1-15 (total:547)
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5107629 5108489 5110977 5108629 5107146 5106906 5107984 5110987 5107977 5107812 5102968 5103422 5103253 5102580 5103049
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