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Hitachi High-Technologies Corporation
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■ 2014 Application Ranking 59th publications: 659
（
2013: 59th 716）
■ 2014 Acquisition Ranking 54th registrations: 625
（
2013: 51th 717）
（update：Feb 25, 2021）
| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5645934 | Charged particle beam device and soundproof cover | Dec 24, 2014 | |
| 特許 5645771 | Mass spectrometer | Dec 24, 2014 | |
| 特許 5645829 | Signal processor, mass spectrometer and photometer | Dec 24, 2014 | |
| 特許 5644006 | Processing time prediction method and automatic analysis system | Dec 24, 2014 | |
| 特許 5641463 | Defect inspection equipment and its method | Dec 17, 2014 | |
| 特許 5643339 | Automatic analyzer | Dec 17, 2014 | 共同出願 |
| 特許 5642427 | Plasma processing method | Dec 17, 2014 | |
| 特許 5637841 | Inspection equipment | Dec 10, 2014 | |
| 特許 5638024 | Specimen transport system | Dec 10, 2014 | |
| 特許 5639590 | Scanning electron microscope and sample observation method | Dec 10, 2014 | |
| 特許 5640135 | Plasma processing equipment | Dec 10, 2014 | |
| 特許 5640027 | Overlay measurement method, measuring device, scanning electron microscope and GUI | Dec 10, 2014 | |
| 特許 5639797 | Pattern matching method, image processing device, and computer program | Dec 10, 2014 | |
| 特許 5638098 | Inspection equipment and inspection condition acquisition method | Dec 10, 2014 | |
| 特許 5639925 | Pattern matching device and computer program | Dec 10, 2014 |
1-15 (total:625)
※ : select publication number
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5645934 5645771 5645829 5644006 5641463 5643339 5642427 5637841 5638024 5639590 5640135 5640027 5639797 5638098 5639925
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