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Hitachi High-Technologies Corporation
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■ 2014 Application Ranking 59th publications: 659
（
2013: 59th 716）
■ 2014 Acquisition Ranking 54th registrations: 625
（
2013: 51th 717）
（update：Jan 28, 2021）
| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2014-240765 | Line pattern shape evaluation method and its equipment | Dec 25, 2014 | |
| 特開 2014-241301 | Charged particle beam device and its control method | Dec 25, 2014 | |
| 特開 2014-240801 | Infrared inspection device | Dec 25, 2014 | |
| 特開 2014-239060 | Sample observation method | Dec 18, 2014 | |
| 特開 2014-239091 | Plasma processing equipment and plasma processing method | Dec 18, 2014 | |
| 特開 2014-239063 | Charged particle beam device | Dec 18, 2014 | |
| 特開 2014-238346 | Automatic analyzer | Dec 18, 2014 | |
| 特開 2014-235253 | Pattern forming device and pattern forming method | Dec 15, 2014 | |
| 特開 2014-235035 | Liquid chromatograph analyzer, analysis system and analysis method using it | Dec 15, 2014 | |
| 特開 2014-235076 | Blood cell destruction reagent and blood cell destruction method using it | Dec 15, 2014 | |
| 特開 2014-235948 | Ion source and ion milling device | Dec 15, 2014 | |
| 特開 2014-235001 | Automatic analyzer | Dec 15, 2014 | |
| 特開 2014-235020 | Automatic analyzer | Dec 15, 2014 | |
| 特開 2014-235985 | Charged particle beam device | Dec 15, 2014 | |
| 特開 2014-232057 | Temperature control unit and nucleic acid analyzer using it | Dec 11, 2014 |
1-15 (total:659)
※ : select publication number
Copy all numbers
2014-240765 2014-241301 2014-240801 2014-239060 2014-239091 2014-239063 2014-238346 2014-235253 2014-235035 2014-235076 2014-235948 2014-235001 2014-235020 2014-235985 2014-232057
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