ホーム > Japan Patent Ranking > Hitachi High-Technologies Corporation > 2015 > Patents
※ You can add "Hitachi High-Technologies Corporation" to your own list by loggin in. About Login
■ 2015 Application Ranking 107th publications: 423
(2014: 59th 659)
■ 2015 Acquisition Ranking 95th registrations: 287
(2014: 54th 625)
(update:Apr 15, 2021)
Publication number | Title of the Invention | Public. date | Remarks |
---|---|---|---|
B 5806769 | Analytical method, dispensing method and heating method | Nov 10, 2015 | |
B 5806942 | Charged particle beam device and arithmetic unit | Nov 10, 2015 | |
B 5808582 | Automatic analyzer | Nov 10, 2015 | |
B 5808587 | Inspection method and equipment | Nov 10, 2015 | |
B 5808697 | Dry etching equipment and dry etching method | Nov 10, 2015 | |
B 5805259 | Automatic analyzer | Nov 4, 2015 | |
B 5800757 | Plasma processing equipment | Oct 28, 2015 | |
B 5800944 | Specimen test automation system | Oct 28, 2015 | |
B 5801334 | Nucleic acid amplification device and nucleic acid test device using it | Oct 28, 2015 | |
B 5801913 | Ion beam device | Oct 28, 2015 | |
B 5802454 | Plasma processing method | Oct 28, 2015 | |
B 5802560 | Inspection vehicle sway correction method and device, and inspection method and device | Oct 28, 2015 | |
B 5802566 | Mass spectrometer | Oct 28, 2015 | |
B 5796080 | Automatic analyzer | Oct 21, 2015 | |
B 5797884 | Light amount detection method and its device | Oct 21, 2015 |
46-60 (total:288)
※ : select publication number
Copy all numbers
5806769 5806942 5808582 5808587 5808697 5805259 5800757 5800944 5801334 5801913 5802454 5802560 5802566 5796080 5797884
※ You can add applicants to the list by logging in. Useful for checking trends in "Hitachi High-Technologies Corporation" intellectual property.
4月20日(火) -
4月21日(水) -
4月21日(水) -
4月21日(水) - 東京 港区
4月22日(木) -
4月22日(木) -
4月22日(木) -
4月23日(金) -
4月23日(金) - 東京 港区
4月23日(金) -
4月23日(金) - 愛知 名古屋市
4月23日(金) - 大阪 大阪市
4月23日(金) - 福岡 福岡市
4月23日(金) -
4月23日(金) -
4月23日(金) -
4月26日(月) -
4月27日(火) - 東京 港区
4月27日(火) -
4月26日(月) -
東京都千代田区岩本町2-19-9 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
福岡市博多区博多駅前3丁目25番21号 博多駅前ビジネスセンター411号 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
オーブ国際特許事務所(東京都)-ソフトウェア・電気電子分野専門
東京都千代田区飯田橋3-3-11新生ビル5階 特許・実用新案 商標 外国特許 鑑定