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Hitachi High-Technologies Corporation

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　■　2015 Application Ranking      107th 　publications: 423 （下降2014: 59th  659）

　■　2015 Acquisition Ranking      95th 　registrations: 287 （下降2014: 54th  625）

（update：Apr 15, 2021）

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Publication numberTitle of the InventionPublic. dateRemarks
B 5783953 Pattern evaluation device and pattern evaluation method Sep 24, 2015
B 5784796 Surface inspection equipment and its method Sep 24, 2015
B 5777967 Charged particle beam device and measurement method Sep 16, 2015
B 5777984 Multi-quadrupole measuring device Sep 16, 2015
B 5778053 Mass spectrometer and adjustment method of mass spectrometer Sep 16, 2015
B 5778777 Specimen test automation system Sep 16, 2015
B 5779482 Plasma processing equipment and plasma processing method Sep 16, 2015
B 5780761 Analytical system with photometer Sep 16, 2015
B 5774356 Plasma processing method Sep 9, 2015
B 5774428 Dry etching method and plasma etching equipment Sep 9, 2015
B 5774933 Dry etching method and plasma etching equipment Sep 9, 2015
B 5774994 Specimen test automation system Sep 9, 2015
B 5775160 Plug body opening / closing mechanism and automatic analysis system equipped with it Sep 9, 2015
B 5775948 Charged particle microscope device and image imaging method Sep 9, 2015
B 5775949 How to create a template for pattern matching and image processing equipment Sep 9, 2015

76-90 (total:288)

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5783953 5784796 5777967 5777984 5778053 5778777 5779482 5780761 5774356 5774428 5774933 5774994 5775160 5775948 5775949

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企業における商標実務（TV聴講）／大阪

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